EN462-5雙絲(si) 像質計——射線圖像幾何不清晰度的測量標尺

EN462-5雙絲(si) 像質計介紹

雙線像質計的樣式和主要尺寸如圖1所示, 基本結構包括:封裝板、13個(ge) 絲(si) 對、識別標誌號,各部分經粘結構成具有一定剛性的整體(ti) 。金屬絲(si) 的材質為(wei) 鉑和鎢。

各對絲(si) 的材質、直徑和絲(si) 之間的間距要求,應符合表1規定。封裝板包括上、下板,材料一般為(wei) 硬塑料(或其他適當的低吸收材料板),下板厚度為(wei) 1mm左右。

13個(ge) 絲(si) 對放置在上、下板中間。一個(ge) 絲(si) 對本身中的絲(si) 應相互平行,各絲(si) 對也應相互平行。其外形見圖2,內(nei) 部實際結構見圖3。

雙絲(si) 像質計應與(yu) 線型或孔型像質計一起使用。應置於(yu) 被檢物體(ti) 的源側(ce) ，並且應盡可能地靠近射線束軸線與(yu) 軸線垂直。借助4倍放大鏡觀察雙絲(si) 像質計影像。Z大線對，其影像正好是兩(liang) 雙線間距可以識別J限下的兩(liang) 獨立線過渡到單線的影像，此時被認為(wei) 是可辨別的J限值。圖像不清晰度U可由2d表示，其中d是線的寬度和線的間隔距離。

製造商對每個(ge) 雙絲(si) 像質計都應提供檢測合格證書(shu) 。