低對比度測試卡

低對比度模體(ti) 此模體(ti) 包含有一組直徑為(wei) 1cm孔徑（共21個(ge) 圓孔）的鋁製圓形盤構成。如果使用 塊衰減體(ti) 模提供在自動曝光控製下使X射線衰減和硬化，使這些圓盤產(chan) 生X射線輻射的對比度從(cong) 0.8%到20%的變化，一個(ge) 圓盤的所產(chan) 生一級近似對比度如下：0.8%1096、1.496、18%、2.0%、2.3%、2.796、3.3%、3.9%、4.0%64.5%、5.5%6.696 7.6%、8.6%、10.8%、12.3%、14.5%、16.0%、18.0%、20.0%。

低對比度測試卡，測試卡由20mm厚的鋁板製成。

在該鋁板上均布lcm孔徑圓孔，孔的深度（mm）及對比度（括號內(nei) 數值96）0.07mm（03596）到32mm（16%）變化共計19個(ge) 圓孔。它們(men) 分別是：

0.07(0.35%)、0.11(0.55%)0.15(0.75%)019(0.95)022(1196)0.26(1.3%)0.32(1.6%)、0.36(1.8%)0.44(22%)052(26%)088(44%06(53%)3668%)148(74%)176(8.8%)214(107%)2.5(12.596)2.9(14.5%)、32(16%)