儀(yi) 器概述：

集成電路引線彎曲試驗儀(yi) 滿足GJB 128A-1997 半導體(ti) 分立器件試驗方法 、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗方法標準要求設計製造；主要用於(yu) 測定集成電路產(chan) 品、IC芯片、電子元器件及設備物理性能試驗中引線塗覆層附著力檢測以及引腳在拉力、彎曲、扭轉三種作用力下的形變狀態。

集成電路引線彎曲試驗儀(yi) 性能指標：

1.拉力試驗：手動垂直加載砝碼；

2.拉力加載時間：0～999s內(nei) 連續可調；

3.彎曲試驗：每次對一根引線彎曲；

4.彎曲角度：0～90°可調，精度：±2°；

5.動作周期：1s～10s/次（彎曲角度：30°、45°、90°時），精度：±3%；

6.彎曲次數：1～999次；精度：±1次；

7.扭轉：可連續扭轉180°；精度：±2°；

8.加載砝碼：0.5N、1N 、1.25N 、2.5N、5.0N、10N、20N、40N八個(ge) ；精度：± 1％；（可據用戶要求定製，操作方法以常用砝碼說明）；

9.動力源：步進電機驅動;

10.控製器：PLC智能程序控製;

11.顯示和操作:7寸彩色觸摸屏

12.試驗工位：單工位測試；

13.通訊接口：RS232通訊；

14.其他功能：具備斷電記憶（部分參數），出錯/結束報警等人性化功能；

15.外形尺寸：約580L*350W*680H(mm);

16.設備電源：220V±10%，50/60Hz±2Hz.。